高阻抗針頭——帶有集成式補(bǔ)償元件的高頻探針
高頻探針的測量通常是與被測器件 (DUT) 串聯(lián)進(jìn)行的。因此,測試解決方案是信號路徑的一部分。為確保最小回波損耗,測試解決方案必須具有與被測器件相同的阻抗系統(tǒng)(例如 50 Ω)。然而,如果要在閉合的信號路徑中執(zhí)行測量,則其必須確保信號路徑不會(huì)因?yàn)闇y試解決方案而受到影響。如果在這種情況下通過標(biāo)準(zhǔn)測試解決方案進(jìn)行測量,將會(huì)損耗 50% 的能量。其原因在于,測試解決方案與測量對象并聯(lián)。為避免這種情況,INGUN 開發(fā)了一種專門的測試探針,可以實(shí)現(xiàn)高阻抗的信號拾取,從而確保信號路徑不受影響。
一:帶有集成補(bǔ)償元件的高頻探針HFS-840 007 051 A 4807 P1-AS(如圖一)和HFS-440 007 051 A 4807 P5-AS 4M(如圖二)
(圖一)
(圖二)
二:為了指定此測量方案,將執(zhí)行三端口測量,端口 1 和端口 2 與測量對象相連,端口 3 與高頻探針相連(如圖三)
(圖三)
三:如下測量所示,試樣受探針的影響很小。損失的功率降低了 20 dB。這相當(dāng)于電壓降低了 1/10,例如用示波器測量時(shí)。通過短接地,幾乎可以避免寄生耦合。該測試解決方案特別適用于用示波器自動(dòng)測試組件。(如圖四)
(圖四)
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